納米結(jié)構(gòu)二氧化鈦薄膜的自組裝設(shè)計(jì)、構(gòu)筑及相關(guān)機(jī)制研究


1.1萬字 28頁 原創(chuàng)作品，已通過查重系統(tǒng)


目 錄
摘要 I
Abstract II
第一章 緒論 1
1.1 二氧化鈦簡介 1
1.2 二氧化鈦的用途 1
1.3 二氧化鈦納米管的制備 2
1.3.1模板輔助合成 3
1.3.2 水熱法 4
1.3.3 陽極氧化法 4
第二章 實(shí)驗(yàn)材料和實(shí)驗(yàn)方法 7
2.1 實(shí)驗(yàn)儀器和步驟 7
2.2.1 實(shí)驗(yàn)器材 7
2.2.2 制備的工藝條件 8
2.2.3 鈦基材的處理 8
2.2.4 實(shí)驗(yàn)裝置 8
2.3 測試與分析方法 9
2.3.1 X射線衍射分析 9
2.3.2 掃描電鏡與能譜分析 9
第三章 二氧化鈦納米管的制備及結(jié)構(gòu)表征 10
3.1 二氧化鈦納米管的總體表征 10
3.1.1形貌特征 10
3.1.2物相結(jié)構(gòu) 10
3.2 電解質(zhì)體系的初步探索影響 11
3.3陽極氧化工藝參對納米管形貌的影響 13
3.3.1 氧化電壓對納米管形貌的影響 13
3.3.2 含水量對納米管陣列表面形貌的影響 14
3.3.3 電解液溫度對納米管形貌的影響 16
3.4二氧化鈦納米管制備工藝優(yōu)化 17
3.5陽極氧化自組裝過程初探 17
第四章 結(jié)論與展望 19
4.1 結(jié)論 19
4.2 展望 20
參考文獻(xiàn) 21
致謝 23


摘要
本文采用電化學(xué)恒壓陽極氧化工藝，成功實(shí)現(xiàn)了Ti基底上的高度有序二氧化鈦納米管陣列結(jié)構(gòu)的構(gòu)筑，并通過XRD、SEM對該結(jié)構(gòu)的晶型及表面形貌進(jìn)行了表征，實(shí)驗(yàn)主要討論了陽極氧化參數(shù)對納米管陣列結(jié)構(gòu)參數(shù)的影響。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)納米管的管徑受氧化電壓的影響；納米管的長度受氧化時(shí)間、氧化溫度以及電解液的pH值的共同作用；納米管的光滑度和表面的清晰度則分別與電解液種類和含水量有關(guān)。在實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)上，本文對納米管陣列結(jié)構(gòu)形成和發(fā)展過程進(jìn)行了探討


關(guān)鍵詞：二氧化鈦，納米管，電場，機(jī)理