采用JTAG的電路測試
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摘要
邊界掃描測試技術(shù)是一種標準化的可測性設(shè)計技術(shù)，可用于實現(xiàn)低成本的芯片級、板極甚至系統(tǒng)級的電路測試和故障診斷。它提供了對電路板上元件的功能、互連及相互間影響進行測試的一種新方案，極大地方便了系統(tǒng)電路的測試。隨著集成電路設(shè)計和制造工藝的不斷進步，邊界掃描測試技術(shù)正得到越來越多的關(guān)注。
本文介紹了邊界掃描技術(shù)的原理、結(jié)構(gòu)，討論了邊界掃描技術(shù)的應用以及邊界掃描描述語言在測試中的作用。并實現(xiàn)了對具體電路外圍管腳的測試，列出了測試向量表，分析了測試結(jié)果及故障原因。

關(guān)鍵詞：邊界掃描,邊界掃描測試技術(shù),邊界掃描描述語言

目 錄
第一章 緒論 1
1.1 課題背景和意義 1
1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀 2
1.3 本文的主要研究內(nèi)容 3
1.4 本文的內(nèi)容提要 3
第二章 邊界掃描測試技術(shù) 4
2.1 邊界掃描測試技術(shù)的基本原理 4
2.2 邊界掃描測試技術(shù)標準 5
2.2.1 TAP控制器 6
2.2.2 指令寄存器 9
2.2.3 測試數(shù)據(jù)寄存器組 9
2.2.4 指令 11
2.3 邊界掃描測試技術(shù)的應用 14
2.4 邊界掃描描述語言（BSDL）在測試中的應用 15
2.4.1 EPM7128SL84芯片的BSDL描述 16
2.4.2 BSDL描述語言的實際應用 18
2.4.3 結(jié)束語 19
2.5 本章小結(jié) 19
第三章 采用JTAG測試電路 20
3.1 數(shù)字電路的故障模式 20
3.2 數(shù)字電路的測試方法 20
3.3 測試向量表 20
3.4 測試流程圖 20
3.5 故障分析 21
3.5.1 固定故障模型 22
3.5.2 延遲故障模型 22
3.5.3 IDDQ故障模型 23
第四章 針對具體電路的測試實例 24
4.1 具體測試電路及故障種類 24
4.2 測試向量及測試過程 24
4.2.1 測試向量 24
4.2.2 測試過程 27
4.3 測試結(jié)果分析 27
第五章 總結(jié) 28
5.1 本文所做的主要工作 28
5.2 展望 28
致 謝 29
附錄一：開題報告 30
附錄二：中期報告 32
附錄三：參考文獻 33
附錄四：英文翻譯 34


參考文獻

[1] 徐志軍 徐光輝 編著：《CPLD/FPGA的開發(fā)與應用》電子工業(yè)出版社 2002年
[2] 趙曙光 郭萬有 楊頌華 編著：《可編程邏輯器件原理、開發(fā)與應用》西安電子科技大學出版社 2002年
[3] 王志華 鄧仰東 編著：《數(shù)字集成系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)化設(shè)計與高層次綜合》 清華大學出版社 2000年
[4] 劉麗華 辛德祿 李本俊 編著：《專用集成電路設(shè)計方法》
北京郵電大學出版社 2001年