基于LabVIEW光彈顆粒雙軸剪切試驗(yàn)的控制裝置（硬件）


1.19萬(wàn)字 46頁(yè) 原創(chuàng)作品，已通過(guò)查重系統(tǒng)

摘 要

顆粒材料在日常生活中隨處可見(jiàn)，顆粒材料由于其具有不連續(xù)、非均質(zhì)和各向異性等性質(zhì)，每年用于顆粒材料處理的金額非常高，因此對(duì)顆粒材料的行為進(jìn)行研究具有重大的經(jīng)濟(jì)意義。
本課題為觀測(cè)顆粒物質(zhì)發(fā)生剪切變形時(shí)內(nèi)部應(yīng)變傳遞特征而進(jìn)行，以佳能EOS 6D數(shù)碼相機(jī)、壓力傳感器、PLC、步進(jìn)電機(jī)、紫外線燈、LED燈和PC機(jī)作為硬件配置，以LabVIEW為開(kāi)發(fā)平臺(tái)，編制VI程序，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集和控制。
本文首先介紹了光彈顆粒的研究背景、意義以及國(guó)內(nèi)外研究動(dòng)態(tài)，然后根據(jù)任務(wù)要求，對(duì)硬件進(jìn)行選型，并編寫(xiě)PLC控制程序，最后對(duì)實(shí)驗(yàn)裝置的人機(jī)交互界面進(jìn)行了介紹。



關(guān)鍵字：可編程控制器（PLC）、LabVIEW、剪切試驗(yàn)、控制裝置、光彈顆粒